Caractérisation
Explorez, analysez, comprenez vos matériaux et dispositifs
Laboratoire de caractérisation avancée des matériaux & dispositifs
Ce pôle est entièrement dédié à la caractérisation avancée des matériaux et des dispositifs.
Ce pôle est dédié à la caractérisation chimique, structurelle, électrique et optique des matériaux et dispositifs.
Nos équipements de pointes permettent d’étudier les propriétés de matériaux sous différentes formes — solide, en solution, en film mince ou intégrées en dispositif.
L’objectif est de fournir une compréhension approfondie des propriétés électriques, optiques, structurales et morphologiques des échantillons.
Des analyses rhéologiques et élémentaires peuvent également être réalisées selon les besoins de votre projet.
Nos techniques et équipements de caractérisation
Nous mettons à votre disposition un large éventail d’équipements couvrant les principales approches analytiques :
- MEB / TEM – Microscopie électronique à balayage et en transmission pour l’analyse fine des structures et surfaces
- TF Analyzer – Mesure des propriétés diélectriques et ferroélectriques
- Profilomètre – Caractérisation topographique et mesure de l’épaisseur des couches
- 4 pointes – Mesures de conductivité des films et dispositifs
- XPS / UPS – Spectroscopies photo-électroniques pour l’analyse de la composition élémentaire et des états électroniques
- Microscope optique
- Spectroscopie
Consultez la liste de tous nos équipements