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Probe station – CASCADE EPS 150

Probe station – CASCADE EPS 150

La probe station Cascade EPS 150 est installée dans une boîte à gants et reliée à un Semiconductor Device Analyzer Keisight B1500A. Cet ensemble permet la caractérisation d’un large éventail de composants électroniques tels que des condensateurs, des transistors, des portes NAND et bien d’autres.

Caractéristiques techniques

  • Plaque de contact (chuck) de 150 mm
  • 4 micropositionneurs
  • Microscope avec grossissement de 15× à 100× et éclairage LED
  • Caméra avec écran intégré
  • Capacité de mesure jusqu’à l’échelle du femtoampère

The Cascade EPS 150 probe station is installed inside a glovebox and connected to a B1500 semiconductor analyzer. This configuration enables the characterization of a wide variety of electronic components, including capacitors, transistors, NAND gates, and more.

Key Features

  • 150 mm chuck stage
  • 4 micropositioners
  • Microscope with 15× to 100× magnification and LED illumination
  • Camera with integrated screen
  • Measurement capability down to the femtoampere current range

En savoir plus sur la Probe Station

La Probe Station est le point final de la chaîne de fabrication chez ELORPrintTec. C’est ici que vos designs deviennent des dispositifs actifs. Cet équipement de haute précision permet d’établir un contact électrique micrométrique sur vos composants (transistors, diodes, capteurs) afin d’en extraire les paramètres de performance vitaux sans avoir besoin de les souder ou de les encapsuler prématurément.

Une plateforme de test pour l’électronique de haute précision

Notre station sous pointes est équipée de micro-manipulateurs ultra-précis permettant de positionner des pointes de tungstène sur des zones de contact minuscules. Couplée à des unités de mesure source (SMU), elle permet de réaliser des caractérisations électriques complètes :

  • Courbes de transfert et de sortie (I-V) : pour calculer la mobilité des porteurs de charge, la tension de seuil et le rapport On/Off de vos transistors organiques (OFET).
  • Caractérisation de diodes et cellules solaires : mesure du rendement de conversion (PCE), du facteur de forme (Fill Factor) et du courant de court-circuit sous éclairage contrôlé.
  • Tests de fiabilité : analyse du comportement du composant en temps réel sous différentes conditions de stress électrique.

Adaptabilité aux matériaux organiques et flexibles

La Probe Station d’ELORPrintTec est spécifiquement configurée pour répondre aux défis des nouveaux matériaux. Contrairement aux stations standards pour le silicium, nos réglages permettent de prendre contact sur des couches organiques fragiles ou des électrodes imprimées sans percer le matériau.

Que vous soyez en phase de recherche fondamentale sur de nouveaux semi-conducteurs ou en phase de prototypage de circuits logiques flexibles, la station sous pointes est l’outil qui transforme vos couches minces en données de performance concrètes. Elle permet de valider l’architecture de vos dispositifs et d’assurer que les performances mesurées sont bien le reflet de votre innovation technologique.

FAQ

À quoi sert la probe station ?

Ce système permet de tester les caractéristiques courant-tension (I-V) de transistors ou capteurs via des micro-pointes de contact.

Quels sont les avantages / limites ?

Avantages : Mesure de précision éliminant la résistance des câbles, test direct sur wafer ou substrat flexible.

Limites : Nécessite une grande stabilité mécanique pour éviter d’endommager les micro-contacts.